据EurekAlert网站7月17日消息，英国华威大学和美国华盛顿大学的联合研究团队首次将微电子器件中的电子结构可视化，可用于测量原子级厚度的二维半导体材料中电子的能量和动量。研究人员将一束紫外线或X射线光聚焦在局部区域的原子上，将电子撞出原子，通过测量逃逸电子的能量和行进方向，可以计算出其能量和动量。该研究揭示了电子结构随电压变化的规律，为精细调谐的高性能电子器件研究开辟了道路。

https://www.eurekalert.org/pub_releases/2019-07/uow-fvo071719.php