据橡树岭国家实验室网站8月30日消息，美国橡树岭国家实验室（Purdue University）的研究人员通过原子力显微镜（atomic force microscopy，AFM）探测隐藏的材料，不仅实现了原子和分子单粒子尺度上对材料表面特性的探测，而且实现了材料内部的高分辨率成像。为了非破坏性地获得有关材料内部的任何信息，研究人员只能对引起信号的特征进行分析或统计推断，但纳米尺度的经典衍射限制了使用非破坏性刺激（如低强度光和声波）对材料内部结构进行传统成像。虽然电子显微镜可以提供纳米级分辨率，但辐照会对样品（特别是生物和有机复合材料）造成损坏。扫描探针显微镜（SPM）采用原子级探针，在某些物理、化学、电和热梯度下可以进行材料内部结构成像，而在所有SPM技术中，原子力显微镜为无损和无标记测量提供了独特的机会。研究人员认为，量子传感技术可能是探测材料内部信息的关键，如量子探测器可以利用斯格明子来探测材料表面以下更深的深度，可实现对超材料、量子材料等材料的非侵入性、高分辨率的研究。相关研究成果发表在《科学·进展》（Science Advances）期刊上。

消息来源：https://www.ornl.gov/news/quantum-study-peers-within-sensing-nanoscale